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文献
J-GLOBAL ID：201002276413953497
整理番号：10A0937186
CMOS SOIトランジスタの放射線劣化に対する湿度の影響
Effects of Moisture on Radiation-Induced Degradation in CMOS SOI Transistors
SHANEYFELT Marty R.
(Sandia National Lab., NM, USA)
,
SCHWANK James R.
(Sandia National Lab., NM, USA)
,
DODD Paul E.
(Sandia National Lab., NM, USA)
,
HILL Tom A.
(Sandia National Lab., NM, USA)
,
DALTON Scott M.
(Sandia National Lab., NM, USA)
,
SWANSON Scot E.
(Sandia National Lab., NM, USA)
資料名：
IEEE Transactions on Nuclear Science
(IEEE Transactions on Nuclear Science)
巻： 57 号： 4,Pt.1 ページ： 1777-1780 発行年： 2010年08月
JST資料番号： C0235A ISSN： 0018-9499 CODEN： IETNAE 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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