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文献
J-GLOBAL ID：201002281966768390
整理番号：10A0465690
シリコン原子空孔評価:P(VDF/TrFE)圧電薄膜を用いたシリコン単結晶の超音波測定 II
三本啓輔
(新潟大 大学院)
,
岡部和樹
(新潟大 大学院)
,
柳瀬隆志
(エムテーシー)
,
赤津光洋
(新潟大 大学院)
,
馬場正太郎
(新潟大 大学院)
,
永井勇太
(新潟大 大学院)
,
小松悟
(新潟大 大学院)
,
小野恭史
(富山大 機器分析セ)
,
根本祐一
(新潟大 大学院)
,
金田寛
(新潟大 物質量子セ)
,
後藤輝孝
(新潟大 大学院)
資料名：
応用物理学関係連合講演会講演予稿集(CD-ROM)
(Extended Abstracts of the Spring Meeting, Japan Society of Applied Physics and the Related Societies)
巻： 57th ページ： ROMBUNNO.20A-TW-3 発行年： 2010年03月03日
JST資料番号： Y0054B 資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 短報 発行国： 日本 (JPN) 言語： 日本語 (JA)
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