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文献
J-GLOBAL ID：201002283070436358
整理番号：10A0937247
サブミリストリップのRPCにおける誘導電荷分布の測定
Measurements of Induced Charge Profile in RPC With Submilli-Strips
NARITA S.
(Iwate Univ., Morioka, JPN)
,
SHOJI M.
(Tohoku Gakuin Univ., Tagajo, JPN)
,
HOSHI Y.
(Tohoku Gakuin Univ., Tagajo, JPN)
,
MIURA D.
(Tohoku Gakuin Univ., Tagajo, JPN)
,
KIKUCHI Y.
(Tohoku Gakuin Univ., Tagajo, JPN)
,
NEICHI K.
(Tohoku Gakuin Univ., Sendai, JPN)
,
YAMAGUCHI A.
(Tohoku Univ., Sendai, JPN)
資料名：
IEEE Transactions on Nuclear Science
(IEEE Transactions on Nuclear Science)
巻： 57 号： 4,Pt.2 ページ： 2210-2214 発行年： 2010年08月
JST資料番号： C0235A ISSN： 0018-9499 CODEN： IETNAE 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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