文献
J-GLOBAL ID:201002283790206678
整理番号:10A0548442
GaN系VCSEL: 素子内物理学と性能限界の解析
GaN-based VCSELs: Analysis of internal device physics and performance limitations
著者 (2件):
PIPREK Joachim
(NUSOD Inst. LLC, DE, USA)
,
LI Simon
(Crosslight Software Inc., BC, CAN)
資料名:
Proceedings of SPIE
(Proceedings of SPIE)
巻:
7602
ページ:
760217.1-760217.10
発行年:
2010年
JST資料番号:
D0943A
ISSN:
0277-786X
CODEN:
PSISDG
資料種別:
会議録 (C)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)