文献
J-GLOBAL ID:201002283811762371
整理番号:10A0580529
線形スペクトログラムを用いた任意の光波形の特性評価
Optical arbitrary waveform characterization using linear spectrograms
著者 (5件):
JIANG Zhi
(Beckman Inst. for Advanced Sci. and Technol., Univ. of Illinois at Urbana-Champaign, Urbana, IL 61801, USA)
,
LEAIRD Daniel E.
(School of Electrical and Computer Engineering, Purdue Univ., West Lafayette, IN 47907, USA)
,
LONG Christopher M.
(School of Electrical and Computer Engineering, Purdue Univ., West Lafayette, IN 47907, USA)
,
BOPPART Stephen A.
(Beckman Inst. for Advanced Sci. and Technol., Univ. of Illinois at Urbana-Champaign, Urbana, IL 61801, USA)
,
WEINER Andrew M.
(School of Electrical and Computer Engineering, Purdue Univ., West Lafayette, IN 47907, USA)
資料名:
Optics Communications
(Optics Communications)
巻:
283
号:
15
ページ:
3017-3021
発行年:
2010年08月01日
JST資料番号:
A0678B
ISSN:
0030-4018
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
短報
発行国:
オランダ (NLD)
言語:
英語 (EN)