文献
J-GLOBAL ID:201002284699483827
整理番号:10A0970095
熱刺激電流分光法を使用するCdZnTe:Al中の欠陥準位の研究
Investigation on defect levels in CdZnTe : Al using thermally stimulated current spectroscopy
著者 (6件):
NAN Ruihua
(Northwestern Polytechnical Univ., Xi’an, CHN)
,
JIE Wanqi
(Northwestern Polytechnical Univ., Xi’an, CHN)
,
ZHA Gangqiang
(Northwestern Polytechnical Univ., Xi’an, CHN)
,
WANG Tao
(Northwestern Polytechnical Univ., Xi’an, CHN)
,
XU Yadong
(Northwestern Polytechnical Univ., Xi’an, CHN)
,
LIU Weihua
(Northwestern Polytechnical Univ., Xi’an, CHN)
資料名:
Journal of Physics. D. Applied Physics
(Journal of Physics. D. Applied Physics)
巻:
43
号:
34
ページ:
345104,1-5
発行年:
2010年09月01日
JST資料番号:
B0092B
ISSN:
0022-3727
CODEN:
JPAPBE
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
イギリス (GBR)
言語:
英語 (EN)