文献
J-GLOBAL ID:201002285261399250
整理番号:10A0449777
表面のプロファイル測定のための構造化光パターンの最先端技術
A state of the art in structured light patterns for surface profilometry
著者 (4件):
SALVI Joaquim
(Inst. of Informatics and Applications, Univ. of Girona, Av. Lluis Santalo S/N, E-17071 Girona, ESP)
,
FERNANDEZ Sergio
(Inst. of Informatics and Applications, Univ. of Girona, Av. Lluis Santalo S/N, E-17071 Girona, ESP)
,
PRIBANIC Tomislav
(Fac. of Electrical Engineering and Computing, Univ. of Zagreb, Unska 3, HR-10000 Zagreb, HRV)
,
LLADO Xavier
(Inst. of Informatics and Applications, Univ. of Girona, Av. Lluis Santalo S/N, E-17071 Girona, ESP)
資料名:
Pattern Recognition
(Pattern Recognition)
巻:
43
号:
8
ページ:
2666-2680
発行年:
2010年08月
JST資料番号:
D0611A
ISSN:
0031-3203
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
オランダ (NLD)
言語:
英語 (EN)