文献
J-GLOBAL ID:201002285703029067
整理番号:10A0555074
Ni80Fe20薄膜エッジ部の酸化によるエッジモード動力学の変化
Modification of edge mode dynamics by oxidation in Ni80Fe20 thin film edges
著者 (2件):
ZHU M.
(Center for Nanoscale Sci. and Technol., National Inst. of Standards and Technol., Gaithersburg, Maryland 20899, USA)
,
MCMICHAEL R. D.
(Center for Nanoscale Sci. and Technol., National Inst. of Standards and Technol., Gaithersburg, Maryland 20899, USA)
資料名:
Journal of Applied Physics
(Journal of Applied Physics)
巻:
107
号:
10
ページ:
103908
発行年:
2010年05月15日
JST資料番号:
C0266A
ISSN:
0021-8979
CODEN:
JAPIAU
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)