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文献
J-GLOBAL ID：201002287184461951
整理番号：10A1125013
大型ヘリカル装置におけるマイクロ波画像化反射測定のための4の異なる周波数の同時投射及び検出システム
Simultaneous projection and detection system of four different frequencies for microwave imaging reflectometry in Large Helical Device
YOSHINAGA T.
(National Inst. for Fusion Sci., 322-6 Oroshi, Toki 509-5292, JPN)
,
NAGAYAMA Y.
(National Inst. for Fusion Sci., 322-6 Oroshi, Toki 509-5292, JPN)
,
KUWAHARA D.
(Tokyo Inst. of Technol., 2-12-1 Ookayama, Meguro 152-8550, JPN)
,
TSUCHIYA H.
(National Inst. for Fusion Sci., 322-6 Oroshi, Toki 509-5292, JPN)
,
YAMAGUCHI S.
(Kansai Univ., 3-3-35 Yamate, Suita 564-8680, JPN)
,
KOGI Y.
(Fukuoka Inst. of Technol., 3-30-1 Wajiro-Higashi, Fukuoka 811- 0295, JPN)
,
TSUJI-IIO S.
(Tokyo Inst. of Technol., 2-12-1 Ookayama, Meguro 152-8550, JPN)
,
MASE A.
(Kyushu Univ., 6-1 Kasuga-Koen, Kasuga 816-8680, JPN)
資料名：
Review of Scientific Instruments
(Review of Scientific Instruments)
巻： 81 号： 10 ページ： 10D915 発行年： 2010年10月
JST資料番号： D0517A ISSN： 0034-6748 CODEN： RSINAK 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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