文献
J-GLOBAL ID:201002287937220324
整理番号:10A0707769
遅延線検出器を用いるC60+二次イオン顕微鏡観察法
C60+ Secondary Ion Microscopy Using a Delay Line Detector
著者 (7件):
KLERK Leendert A.
(FOM Inst. for Atomic and Molecular Physics, Amsterdam, NLD)
,
LOCKYER Nicholas P.
(Univ. Manchester, Manchester, GBR)
,
KHARCHENKO Andriy
(FOM Inst. for Atomic and Molecular Physics, Amsterdam, NLD)
,
MACALEESE Luke
(FOM Inst. for Atomic and Molecular Physics, Amsterdam, NLD)
,
DANKERS Patricia Y. W.
(Univ. Medical Center Groningen, Groningen, NLD)
,
VICKERMAN John C.
(Univ. Manchester, Manchester, GBR)
,
HEEREN Ron M. A.
(FOM Inst. for Atomic and Molecular Physics, Amsterdam, NLD)
資料名:
Analytical Chemistry
(Analytical Chemistry)
巻:
82
号:
3
ページ:
801-807
発行年:
2010年02月01日
JST資料番号:
A0395A
ISSN:
0003-2700
CODEN:
ANCHAM
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)