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文献
J-GLOBAL ID：201002289571305693
整理番号：10A0874815
テストキューブに対する遅延テスト品質について
On Delay Test Quality for Test Cubes
OKU Shinji
(Kyushu Inst. of Technol.)
,
KAJIHARA Seiji
(Kyushu Inst. of Technol.)
,
KAJIHARA Seiji
(JST, CREST)
,
SATO Yasuo
(Kyushu Inst. of Technol.)
,
SATO Yasuo
(JST, CREST)
,
MIYASE Kohei
(Kyushu Inst. of Technol.)
,
MIYASE Kohei
(JST, CREST)
,
WEN Xiaoqing
(Kyushu Inst. of Technol.)
,
WEN Xiaoqing
(JST, CREST)
資料名：
IPSJ Transactions on System LSI Design Methodology (Web)
(IPSJ Transactions on System LSI Design Methodology (Web))
巻： 3 ページ： 283-291 (J-STAGE) 発行年： 2010年
JST資料番号： U0110A ISSN： 1882-6687 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： 日本 (JPN) 言語： 英語 (EN)
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