文献
J-GLOBAL ID:201002290900600608
整理番号:10A0749432
アモルファス材料におけるミクロン寸法での残留応力分布のマッピング
Mapping Residual Stress Distributions at the Micron Scale in Amorphous Materials
著者 (6件):
WINIARSKI Bartlomiej
(Univ. Manchester, Manchester, GBR)
,
LANGFORD Richard M.
(Univ. Manchester)
,
TIAN Jiawan
(Univ. Tennessee, TN)
,
YOKOYAMA Yoshihiko
(Himeji Inst. of Technol., Himeji, JPN)
,
LIAW Peter K.
(Univ. Tennessee, TN)
,
WITHERS Philip J.
(Univ. Manchester, Manchester, GBR)
資料名:
Metallurgical and Materials Transactions. A. Physical Metallurgy and Materials Science
(Metallurgical and Materials Transactions. A. Physical Metallurgy and Materials Science)
巻:
41
号:
7
ページ:
1743-1751
発行年:
2010年07月
JST資料番号:
E0265B
ISSN:
1073-5623
CODEN:
MTTABN
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)