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文献
J-GLOBAL ID：201002290973142306
整理番号：10A0450668
X線光電子分光法による試料の自動検査のためのエキスパートシステムにおける開発
Developments in expert systems for automatic examination of samples by X-ray photoelectron spectroscopy
CASTLE J.e.
(The Surface Analysis Lab., The Fac. of Engineering and Physical Sci., Mail Drop A1, Univ. of Surrey, Guildford, GU2 ...)
資料名：
Journal of Electron Spectroscopy and Related Phenomena
(Journal of Electron Spectroscopy and Related Phenomena)
巻： 178-179 ページ： 347-356 発行年： 2010年05月
JST資料番号： D0266C ISSN： 0368-2048 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 文献レビュー 発行国： オランダ (NLD) 言語： 英語 (EN)
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