文献
J-GLOBAL ID:201002292489604748
整理番号:10A0556511
統計的モデル化についての変化の逆伝搬(BPV)の拡張
Compact Variability Modeling for Nanometer CMOS Technology Extensions to Backward Propagation of Variance for Statistical Modeling
著者 (4件):
MCANDREW Colin C.
(Freescale Semiconductor)
,
LI Xin
(GlobalFoundries)
,
STEVANOVIC Ivica
(ABB Corporate Res. Center)
,
GILDENBLAT Gennady
(Arizona State Univ.)
資料名:
IEEE Design & Test of Computers
(IEEE Design & Test of Computers)
巻:
27
号:
2
ページ:
36-43
発行年:
2010年03月
JST資料番号:
B0007C
ISSN:
0740-7475
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
解説
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)