文献
J-GLOBAL ID:201002293013746052
整理番号:10A1531250
加速試験および使用環境におけるハンドヘルド製品の熱機械的信頼性キャラクタリゼーション
Thermomechanical reliability characterization of a handheld product in accelerated tests and use environment
著者 (4件):
KARPPINEN J.s.
(Dep. of Electronics, Aalto Univ., P.O. Box 13340, FI-00076 Aalto, FIN)
,
LI J.
(Dep. of Electronics, Aalto Univ., P.O. Box 13340, FI-00076 Aalto, FIN)
,
MATTILA T.t.
(Dep. of Electronics, Aalto Univ., P.O. Box 13340, FI-00076 Aalto, FIN)
,
PAULASTO-KROECKEL Mervi
(Dep. of Electronics, Aalto Univ., P.O. Box 13340, FI-00076 Aalto, FIN)
資料名:
Microelectronics Reliability
(Microelectronics Reliability)
巻:
50
号:
12
ページ:
1994-2000
発行年:
2010年12月
JST資料番号:
C0530A
ISSN:
0026-2714
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
イギリス (GBR)
言語:
英語 (EN)