文献
J-GLOBAL ID:201002293059133365
整理番号:10A1125078
金属フィルタを透過した軟X線連続放射線: 高速電子温度測定のための解析手法
Soft x-ray continuum radiation transmitted through metallic filters: An analytical approach to fast electron temperature measurements
著者 (7件):
DELGADO-APARICIO L.
(Princeton Plasma Physics Lab., Princeton, New Jersey 08543, USA)
,
TRITZ K.
(The Johns Hopkins Univ., Baltimore, Maryland 21218, USA)
,
KRAMER T.
(The Johns Hopkins Univ., Baltimore, Maryland 21218, USA)
,
STUTMAN D.
(The Johns Hopkins Univ., Baltimore, Maryland 21218, USA)
,
FINKENTHAL M.
(The Johns Hopkins Univ., Baltimore, Maryland 21218, USA)
,
HILL K.
(Princeton Plasma Physics Lab., Princeton, New Jersey 08543, USA)
,
BITTER M.
(Princeton Plasma Physics Lab., Princeton, New Jersey 08543, USA)
資料名:
Review of Scientific Instruments
(Review of Scientific Instruments)
巻:
81
号:
10
ページ:
10E303
発行年:
2010年10月
JST資料番号:
D0517A
ISSN:
0034-6748
CODEN:
RSINAK
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)