前のページに戻る
この文献は全文を取り寄せることができます
JDreamⅢ複写サービスから文献全文の複写（冊子体のコピー）をお申込みできます。
ご利用には、G-Searchデータベースサービスまたは、JDreamⅢのIDが必要です。
ご利用には、G-Searchデータベースサービスまたは、JDreamⅢのIDが必要です。
既に、G-Searchデータベースサービスまたは、JDreamⅢのIDをお持ちの方
JDreamⅢ複写サービスのご利用が初めての方
取り寄せる文献のタイトルと詳細
文献
J-GLOBAL ID：201002293978356753
整理番号：10A0254053
A面サファイア基板上GaNエピ層のナノインデンテーションの特性評価
Nanoindentation characterization of GaN epilayers on A-plane sapphire substrates
LIN Meng-hung
(Dep. of Mechanical Engineering, National Chiao Tung Univ., Hsinchu 300, Taiwan)
,
WEN Hua-chiang
(Dep. of Mechanical Engineering, Chin-Yi Univ. of Technol., Taichung 411, Taiwan)
,
HUANG Chih-yung
(Dep. of Mechanical Engineering, Chin-Yi Univ. of Technol., Taichung 411, Taiwan)
,
JENG Yeau-ren
(Dep. of Mechanical Engineering, National Chung Cheng Univ., Chia-Yi 621, Taiwan)
,
YAU Wei-hung
(Dep. of Mechanical Engineering, Chin-Yi Univ. of Technol., Taichung 411, Taiwan)
,
WU Wen-fa
(National Nano Device Laboratories, Hsinchu 300, Taiwan)
,
CHOU Chang-pin
(Dep. of Mechanical Engineering, National Chiao Tung Univ., Hsinchu 300, Taiwan)
資料名：
Applied Surface Science
(Applied Surface Science)
巻： 256 号： 11 ページ： 3464-3467 発行年： 2010年03月15日
JST資料番号： B0707B ISSN： 0169-4332 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： オランダ (NLD) 言語： 英語 (EN)
JDreamⅢ複写サービスとは
JDreamⅢ複写サービスは、学術文献の全文を複写（コピー）して取り寄せできる有料サービスです。インターネットに公開されていない文献や、図書館に収録されていない文献の全文を、オンラインで取り寄せることができます。J-GLOBALの整理番号にも対応しているので、申し込みも簡単にできます。全文の複写（コピー）は郵送またはFAXでお送りします
※ご利用には、G-Searchデータベースサービスまたは、JDreamⅢのIDが必要です
※初めてご利用される方は、JDreamⅢ複写サービスのご案内をご覧ください。
※ご利用には、G-Searchデータベースサービスまたは、JDreamⅢのIDが必要です
※初めてご利用される方は、JDreamⅢ複写サービスのご案内をご覧ください。