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文献
J-GLOBAL ID:201002294317563201   整理番号:10A0655106

Si-L23VV Auger電子-Si-2p光電子同時分光法を用いた清浄なSi(100)-2×1の原子価電子構造の表面部位選択的研究

Surface-Site-Selective Study of Valence Electronic Structures of Clean Si(100)-2×1 Using Si-L23VV Auger Electron-Si-2p Photoelectron Coincidence Spectroscopy
著者 (7件):
KAKIUCHI Takuhiro
(Ehime Univ., Matsuyama, JPN)
HASHIMOTO Shogo
(Yokohama National Univ., Yokohama, JPN)
FUJITA Narihiko
(Yokohama National Univ., Yokohama, JPN)
TANAKA Masatoshi
(Yokohama National Univ., Yokohama, JPN)
MASE Kazuhiko
(KEK, Ibaraki, JPN)
MASE Kazuhiko
(JST-PRESTO, Tokyo, JPN)
NAGAOKA Shin-ichi
(Ehime Univ., Matsuyama, JPN)

資料名:
Journal of the Physical Society of Japan  (Journal of the Physical Society of Japan)

巻: 79  号:ページ: 064714.1-064714.4  発行年: 2010年06月15日 
JST資料番号: G0509A  ISSN: 0031-9015  CODEN: JUPSA  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: 日本 (JPN)  言語: 英語 (EN)
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