文献
J-GLOBAL ID:201002294317563201
整理番号:10A0655106
Si-L23VV Auger電子-Si-2p光電子同時分光法を用いた清浄なSi(100)-2×1の原子価電子構造の表面部位選択的研究
Surface-Site-Selective Study of Valence Electronic Structures of Clean Si(100)-2×1 Using Si-L23VV Auger Electron-Si-2p Photoelectron Coincidence Spectroscopy
著者 (7件):
KAKIUCHI Takuhiro
(Ehime Univ., Matsuyama, JPN)
,
HASHIMOTO Shogo
(Yokohama National Univ., Yokohama, JPN)
,
FUJITA Narihiko
(Yokohama National Univ., Yokohama, JPN)
,
TANAKA Masatoshi
(Yokohama National Univ., Yokohama, JPN)
,
MASE Kazuhiko
(KEK, Ibaraki, JPN)
,
MASE Kazuhiko
(JST-PRESTO, Tokyo, JPN)
,
NAGAOKA Shin-ichi
(Ehime Univ., Matsuyama, JPN)
資料名:
Journal of the Physical Society of Japan
(Journal of the Physical Society of Japan)
巻:
79
号:
6
ページ:
064714.1-064714.4
発行年:
2010年06月15日
JST資料番号:
G0509A
ISSN:
0031-9015
CODEN:
JUPSA
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
日本 (JPN)
言語:
英語 (EN)