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文献
J-GLOBAL ID：201002295128096402
整理番号：10A0177916
シリコンナノワイヤの熱伝導率に対する表面粗さの影響
Effect of surface roughness on thermal conductivity of silicon nanowires
LIU Ling
(Dep. of Earth and Environmental Engineering, Columbia Univ., MC 4711, New York, New York 10027, USA)
,
CHEN Xi
(Dep. of Earth and Environmental Engineering, Columbia Univ., MC 4711, New York, New York 10027, USA)
資料名：
Journal of Applied Physics
(Journal of Applied Physics)
巻： 107 号： 3 ページ： 033501 発行年： 2010年02月01日
JST資料番号： C0266A ISSN： 0021-8979 CODEN： JAPIAU 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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