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文献
J-GLOBAL ID:201002295233669558   整理番号:10A1012897

逆ComptonX線源を用いた単発インライン位相コントラストイメージングの定量評価

Quantitative evaluation of single-shot inline phase contrast imaging using an inverse compton x-ray source
著者 (10件):
OLIVA P.
(Struttura Dipartimentale di Matematica e Fisica, Universita di Sassari, Via Vienna 2, 07100 Sassari, Italy and INFN ...)
CARPINELLI M.
(Struttura Dipartimentale di Matematica e Fisica, Universita di Sassari, Via Vienna 2, 07100 Sassari, Italy and INFN ...)
GOLOSIO B.
(Struttura Dipartimentale di Matematica e Fisica, Universita di Sassari, Via Vienna 2, 07100 Sassari, Italy and INFN ...)
DELOGU P.
(Dipartimento di Fisica “E. Fermi”, Universita di Pisa, Largo B. Pontecorvo 3, 56127 Pisa, ITA)
ENDRIZZI M.
(INFN, Sezione di Pisa, 56127 Pisa, ITA)
PARK J.
(Accelerator Test Facility, Brookhaven National Lab., 820, Upton, New York 11973, USA)
POGORELSKY I.
(Accelerator Test Facility, Brookhaven National Lab., 820, Upton, New York 11973, USA)
YAKIMENKO V.
(Accelerator Test Facility, Brookhaven National Lab., 820, Upton, New York 11973, USA)
WILLIAMS O.
(Dep. of Physics and Astronomy, Univ. of California, Los Angeles, Los Angeles, California 90095, USA)
ROSENZWEIG J.
(Dep. of Physics and Astronomy, Univ. of California, Los Angeles, Los Angeles, California 90095, USA)

資料名:
Applied Physics Letters  (Applied Physics Letters)

巻: 97  号: 13  ページ: 134104  発行年: 2010年09月27日 
JST資料番号: H0613A  ISSN: 0003-6951  CODEN: APPLAB  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 短報  発行国: アメリカ合衆国 (USA)  言語: 英語 (EN)
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