文献
J-GLOBAL ID:201002298744756261
整理番号:10A0439447
三重モジュラ冗長性における単一イベント混乱の短い影響を最小化するための方式
Scheme to minimise short effects of single-event upsets in triple-modular redundancy
著者 (2件):
SHE X.
(Fudan Univ., Shanghai, CHN)
,
TRIMBERGER S.
(Xil Inc, California, USA)
資料名:
IET Computers & Digital Techniques
(IET Computers & Digital Techniques)
巻:
4
号:
1
ページ:
50-55
発行年:
2010年01月
JST資料番号:
H0155D
ISSN:
1751-8601
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
イギリス (GBR)
言語:
英語 (EN)