文献
J-GLOBAL ID:201002299227614372
整理番号:10A0145286
分光器惰円測定法によるペンタセン薄膜の光学定数の測定
Determination of optical constants of pentacene thin film by spectroscopic ellipsometry
著者 (2件):
DATTA Debjit
(Dep. of Physics and Samtel Centre for Display Technologies (SCDT), Indian Inst. of Technol. Kanpur, Kanpur-208016, IND)
,
KUMAR Satyendra
(Dep. of Physics and Samtel Centre for Display Technologies (SCDT), Indian Inst. of Technol. Kanpur, Kanpur-208016, IND)
資料名:
Solar Energy Materials and Solar Cells
(Solar Energy Materials and Solar Cells)
巻:
94
号:
3
ページ:
420-424
発行年:
2010年03月
JST資料番号:
D0513C
ISSN:
0927-0248
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
オランダ (NLD)
言語:
英語 (EN)