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文献
J-GLOBAL ID：201102203751568400
整理番号：11A0144405
熱間平面歪圧縮試験を受けた316Lステンレス鋼における電子後方散乱回折を用いたミクロ組織不均一性のマッピング
Mapping microstructure inhomogeneity using electron backscatter diffraction in 316L stainless steel subjected to hot plane strain compression tests
SUN L.
(Univ. Sheffield, Sheffield, GBR)
,
THOMAS M. J.
(Univ. Sheffield, Sheffield, GBR)
,
WYNNE B. P.
(Univ. Sheffield, Sheffield, GBR)
,
PALMIERE E. J.
(Univ. Sheffield, Sheffield, GBR)
,
MINGARD K. P.
(National Physical Lab., Middlesex, GBR)
,
ROEBUCK B.
(National Physical Lab., Middlesex, GBR)
資料名：
Materials Science and Technology
(Materials Science and Technology)
巻： 26 号： 12 ページ： 1477-1486 発行年： 2010年12月
JST資料番号： C0304C ISSN： 0267-0836 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： イギリス (GBR) 言語： 英語 (EN)
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