文献
J-GLOBAL ID:201102204359387096
整理番号:11A0104709
空間時間分解PLによるInGaN/GaN単一量子井戸のキャリア拡散ダイナミクスの評価-SNOMによるEfficiency droop機構の解明-
Carrier diffusion dynamics in InGaN/GaN SQW studied by spatial and temporal resolved PL spectroscopy-Efficiency droop mechanism assessed by SNOM-
著者 (4件):
橋谷享
(京大 大学院工学研究科)
,
金田昭男
(京大 大学院工学研究科)
,
船戸充
(京大 大学院工学研究科)
,
川上養一
(京大 大学院工学研究科)
資料名:
電子情報通信学会技術研究報告
(IEICE Technical Report (Institute of Electronics, Information and Communication Engineers))
巻:
110
号:
271(ED2010 142-157)
ページ:
33-36
発行年:
2010年11月04日
JST資料番号:
S0532B
ISSN:
0913-5685
資料種別:
会議録 (C)
記事区分:
短報
発行国:
日本 (JPN)
言語:
日本語 (JA)