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J-GLOBAL ID:201102204359387096   整理番号:11A0104709

空間時間分解PLによるInGaN/GaN単一量子井戸のキャリア拡散ダイナミクスの評価-SNOMによるEfficiency droop機構の解明-

Carrier diffusion dynamics in InGaN/GaN SQW studied by spatial and temporal resolved PL spectroscopy-Efficiency droop mechanism assessed by SNOM-
著者 (4件):
橋谷享
(京大 大学院工学研究科)
金田昭男
(京大 大学院工学研究科)
船戸充
(京大 大学院工学研究科)
川上養一
(京大 大学院工学研究科)

資料名:
電子情報通信学会技術研究報告  (IEICE Technical Report (Institute of Electronics, Information and Communication Engineers))

巻: 110  号: 271(ED2010 142-157)  ページ: 33-36  発行年: 2010年11月04日 
JST資料番号: S0532B  ISSN: 0913-5685  資料種別: 会議録 (C)
記事区分: 短報  発行国: 日本 (JPN)  言語: 日本語 (JA)
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