文献
J-GLOBAL ID:201102206470076647
整理番号:11A1582239
TFTのVTHシフトと出力ゆらぎに対して高い電磁感受性を持つ高信頼性a-Si:Hゲートドライバ回路の設計
Design of Reliable a-Si:H Gate Driver Circuit with High Immunity against the VTH Shift of TFT and Output Fluctuations
著者 (4件):
CHUANG Min-Chin
(National Cheng Kung Univ., Tainan, TWN)
,
TU Chun-Da
(National Cheng Kung Univ., Tainan, TWN)
,
CHOU Kuan-Wen
(National Cheng Kung Univ., Tainan, TWN)
,
LIN Chih-Lung
(National Cheng Kung Univ., Tainan, TWN)
資料名:
Annual Meeting of the IEEE Photonics Society
(Annual Meeting of the IEEE Photonics Society)
巻:
23rd
ページ:
305-306
発行年:
2010年
JST資料番号:
T0931A
ISSN:
1092-8081
資料種別:
会議録 (C)
記事区分:
短報
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)