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文献
J-GLOBAL ID：201102206985432462
整理番号：11A0791227
周波数変調原子間力顕微鏡法における位相シフト要素による周波数ノイズと周波数シフトの低減
Reduction of frequency noise and frequency shift by phase shifting elements in frequency modulation atomic force microscopy
KOBAYASHI Kei
(Office of Society-Academia Collaboration for Innovation, Kyoto Univ., Katsura, Nishikyo, Kyoto 615-8520, JPN)
,
YAMADA Hirofumi
(Dep. of Electronic Sci. and Engineering, Kyoto Univ., Katsura, Nishikyo, Kyoto 615-8510, JPN)
,
MATSUSHIGE Kazumi
(Dep. of Electronic Sci. and Engineering, Kyoto Univ., Katsura, Nishikyo, Kyoto 615-8510, JPN)
資料名：
Review of Scientific Instruments
(Review of Scientific Instruments)
巻： 82 号： 3 ページ： 033702 発行年： 2011年03月
JST資料番号： D0517A ISSN： 0034-6748 CODEN： RSINAK 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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