文献
J-GLOBAL ID:201102208195018065
整理番号:11A0571873
スパッタした平坦なGe層上に形成したSi/Ge正孔トンネリング2重障壁共鳴トンネルダイオード
Si/Ge Hole-Tunneling Double-Barrier Resonant Tunneling Diodes Formed on Sputtered Flat Ge Layers
著者 (8件):
HANAFUSA Hiroaki
(Tokyo Univ. Agriculture and Technol., Tokyo, JPN)
,
HIROSE Nobumitsu
(National Inst. Information and Communications Technol., Tokyo, JPN)
,
KASAMATSU Akifumi
(National Inst. Information and Communications Technol., Tokyo, JPN)
,
MIMURA Takashi
(National Inst. Information and Communications Technol., Tokyo, JPN)
,
MATSUI Toshiaki
(National Inst. Information and Communications Technol., Tokyo, JPN)
,
CHONG Harold M. H.
(Univ. Southampton, Southampton, GBR)
,
MIZUTA Hiroshi
(Univ. Southampton, Southampton, GBR)
,
SUDA Yoshiyuki
(Tokyo Univ. Agriculture and Technol., Tokyo, JPN)
資料名:
Applied Physics Express
(Applied Physics Express)
巻:
4
号:
2
ページ:
024102.1-024102.3
発行年:
2011年02月25日
JST資料番号:
F0599C
ISSN:
1882-0778
CODEN:
APEPC4
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
短報
発行国:
イギリス (GBR)
言語:
英語 (EN)