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文献
J-GLOBAL ID:201102208195018065   整理番号:11A0571873

スパッタした平坦なGe層上に形成したSi/Ge正孔トンネリング2重障壁共鳴トンネルダイオード

Si/Ge Hole-Tunneling Double-Barrier Resonant Tunneling Diodes Formed on Sputtered Flat Ge Layers
著者 (8件):
HANAFUSA Hiroaki
(Tokyo Univ. Agriculture and Technol., Tokyo, JPN)
HIROSE Nobumitsu
(National Inst. Information and Communications Technol., Tokyo, JPN)
KASAMATSU Akifumi
(National Inst. Information and Communications Technol., Tokyo, JPN)
MIMURA Takashi
(National Inst. Information and Communications Technol., Tokyo, JPN)
MATSUI Toshiaki
(National Inst. Information and Communications Technol., Tokyo, JPN)
CHONG Harold M. H.
(Univ. Southampton, Southampton, GBR)
MIZUTA Hiroshi
(Univ. Southampton, Southampton, GBR)
SUDA Yoshiyuki
(Tokyo Univ. Agriculture and Technol., Tokyo, JPN)

資料名:
Applied Physics Express  (Applied Physics Express)

巻:号:ページ: 024102.1-024102.3  発行年: 2011年02月25日 
JST資料番号: F0599C  ISSN: 1882-0778  CODEN: APEPC4  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 短報  発行国: イギリス (GBR)  言語: 英語 (EN)
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