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文献
J-GLOBAL ID：201102211118152132
整理番号：11A0412232
XFEL用クライオ試料照射装置を用いたX線回折実験
中迫雅由
(慶応大)
,
中迫雅由
(理研)
,
山本雅貴
(理研)
,
西野吉則
(理研)
,
西野吉則
(北大 電子科研)
,
高山裕貴
(慶応大)
,
高山裕貴
(理研)
,
坂本啓太
(慶応大)
,
児玉渉
(慶応大)
,
児玉渉
(理研)
,
鈴木茂之
(慶応大)
,
鈴木茂之
(理研)
,
松井夕花
(慶応大)
,
松井夕花
(理研)
,
米倉功治
(理研)
,
眞木さおり
(理研)
,
引間孝明
(理研)
,
高橋幸夫
(大阪大 工)
,
久保秀人
(大阪大 工)
,
堤良輔
(大阪大 工)
,
榊茂之
(大阪大 工)
資料名：
日本放射光学会年会・放射光科学合同シンポジウム予稿集
(日本放射光学会年会・放射光科学合同シンポジウム)
巻： 24th ページ： 62 発行年： 2011年01月07日
JST資料番号： L1310A 資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 短報 発行国： 日本 (JPN) 言語： 日本語 (JA)
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