文献
J-GLOBAL ID:201102215847597085
整理番号:11A1159952
埋め込み相変化メモリのための性能ブースタとしてのNドープGeTe
N-doped GeTe as Performance Booster for Embedded Phase-Change Memories
著者 (31件):
FANTINI A.
(CEA-LETI, Grenoble, FRA)
,
SOUSA V.
(CEA-LETI, Grenoble, FRA)
,
PERNIOLA L.
(CEA-LETI, Grenoble, FRA)
,
GOURVEST E.
(CEA-LETI, Grenoble, FRA)
,
GOURVEST E.
(STMicroelectronics)
,
GOURVEST E.
(LTM, CNRS, FRA)
,
BASTIEN J C
(CEA-LETI, Grenoble, FRA)
,
MAITREJEAN S.
(CEA-LETI, Grenoble, FRA)
,
BRAGA S.
(Universita degli Studi di Pavia, ITA)
,
PASHKOV N.
(CEA-LETI, Grenoble, FRA)
,
BASTARD A.
(CEA-LETI, Grenoble, FRA)
,
BASTARD A.
(STMicroelectronics)
,
HYOT B.
(CEA-LETI, Grenoble, FRA)
,
ROULE A.
(CEA-LETI, Grenoble, FRA)
,
PERSICO A.
(CEA-LETI, Grenoble, FRA)
,
FELDIS H.
(CEA-LETI, Grenoble, FRA)
,
JAHAN C.
(CEA-LETI, Grenoble, FRA)
,
NODIN J F
(CEA-LETI, Grenoble, FRA)
,
BLACHIER D.
(CEA-LETI, Grenoble, FRA)
,
TOFFOLI A.
(CEA-LETI, Grenoble, FRA)
,
REIMBOLD G.
(CEA-LETI, Grenoble, FRA)
,
FILLOT F.
(CEA-LETI, Grenoble, FRA)
,
PIERRE F.
(CEA-LETI, Grenoble, FRA)
,
ANNUNZIATA R.
(STMicroelectronics)
,
BENSHAEL D.
(STMicroelectronics)
,
MAZOYER P.
(STMicroelectronics)
,
VALLEE C.
(LTM, CNRS, FRA)
,
BILLON T.
(CEA-LETI, Grenoble, FRA)
,
HAZART J.
(CEA-LETI, Grenoble, FRA)
,
DE SALVO B.
(CEA-LETI, Grenoble, FRA)
,
BOULANGER F.
(CEA-LETI, Grenoble, FRA)
資料名:
Technical Digest. International Electron Devices Meeting
(Technical Digest. International Electron Devices Meeting)
巻:
2010
ページ:
644-647
発行年:
2010年
JST資料番号:
C0829B
ISSN:
0163-1918
資料種別:
会議録 (C)
記事区分:
短報
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)