文献
J-GLOBAL ID:201102218996867531
整理番号:11A0167465
ソフト物質系からの異常な小角X線散乱についての計測機器の開発
Instrumental developments for anomalous small-angle X-ray scattering from soft matter systems
著者 (3件):
SZTUCKI Michael
(European Synchrotron Radiation Facility, Grenoble, FRA)
,
DI COLA Emanuela
(European Synchrotron Radiation Facility, Grenoble, FRA)
,
NARAYANAN Theyencheri
(European Synchrotron Radiation Facility, Grenoble, FRA)
資料名:
Journal of Applied Crystallography
(Journal of Applied Crystallography)
巻:
43
号:
6
ページ:
1479-1487
発行年:
2010年12月
JST資料番号:
D0631A
ISSN:
0021-8898
CODEN:
JACGAR
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)