文献
J-GLOBAL ID:201102220936006957
整理番号:11A0696941
エッジ状態干渉計における高感度荷電検出とデフェージング
High sensitivity charge detection and dephasing in edge state interferometer
著者 (3件):
PATHAK P.K.
(Queen’s Univ., Ont., CAN)
,
LEE Y.
(Chonnam National Univ., Gwangju, KOR)
,
KANG K.
(Chonnam National Univ., Gwangju, KOR)
資料名:
Physica E: Low-Dimensional Systems and Nanostructures
(Physica E: Low-Dimensional Systems and Nanostructures)
巻:
42
号:
4
ページ:
1103-1106
発行年:
2010年02月
JST資料番号:
W1066A
ISSN:
1386-9477
資料種別:
逐次刊行物 (A)
発行国:
オランダ (NLD)
言語:
英語 (EN)