文献
J-GLOBAL ID:201102222378531759
整理番号:11A0951839
多層誘電体の非破壊試験のための可搬形マイクロ波干渉走査システムの最適化
OPTIMIZATION OF A PORTABLE MICROWAVE INTERFERENCE SCANNING SYSTEM FOR NONDESTRUCTIVE TESTING OF MULTI-LAYERED DIELECTRIC MATERIALS
著者 (5件):
SCHMIDT K.F.,Jr.
(Evisive, Inc., Louisiana, USA)
,
LITTLE J.R.,Jr.
(Evisive, Inc., Louisiana, USA)
,
ELLINGSON W.A.
(Argonne National Lab., Illinois, USA)
,
FRANKS L.P.
(US Army Res. and Dev. Command Tank Automotive Res. Dev. and Engineering Center, Michigan, USA)
,
GREEN W.
(US Army Res. Lab., Maryland, USA)
資料名:
Ceramic Engineering & Science Proceedings
(Ceramic Engineering & Science Proceedings)
巻:
31
号:
5
ページ:
47-56
発行年:
2010年
JST資料番号:
E0760B
ISSN:
0196-6219
CODEN:
CESPDK
資料種別:
会議録 (C)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)