文献
J-GLOBAL ID:201102229885107092
整理番号:11A1811476
暗号モジュールに対する非侵襲的なEMIベースの故障注入攻撃
Non-Invasive EMI-Based Fault Injection Attack against Cryptographic Modules
著者 (6件):
HAYASHI Yu-ichi
(Tohoku Univ., Sendai, JPN)
,
HOMMA Naofumi
(Tohoku Univ., Sendai, JPN)
,
SUGAWARA Takeshi
(Tohoku Univ., Sendai, JPN)
,
MIZUKI Takaaki
(Tohoku Univ., Sendai, JPN)
,
AOKI Takafumi
(Tohoku Univ., Sendai, JPN)
,
SONE Hideaki
(Tohoku Univ., Sendai, JPN)
資料名:
IEEE International Symposium on Electromagnetic Compatibility
(IEEE International Symposium on Electromagnetic Compatibility)
巻:
2011 Vol.2
ページ:
763-767
発行年:
2011年
JST資料番号:
E0041A
ISSN:
2158-110X
資料種別:
会議録 (C)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)