文献
J-GLOBAL ID:201102231423006716
整理番号:11A0553933
動作温度の高いMCT光導体検出器の信頼性の研究
Reliability Studies of High-Operating Temperature MCT Photoconductor Detectors
著者 (4件):
WANG Wei
(Shanghai Inst. Technical Physics, Chinese Acad. Sci., Shanghai, CHN)
,
XU Jintong
(Shanghai Inst. Technical Physics, Chinese Acad. Sci., Shanghai, CHN)
,
ZHANG Yan
(Shanghai Inst. Technical Physics, Chinese Acad. Sci., Shanghai, CHN)
,
LI Xiangyang
(Shanghai Inst. Technical Physics, Chinese Acad. Sci., Shanghai, CHN)
資料名:
Proceedings of SPIE
(Proceedings of SPIE)
巻:
7658
号:
Pt.2
ページ:
765849.1-765849.8
発行年:
2010年
JST資料番号:
D0943A
ISSN:
0277-786X
CODEN:
PSISDG
資料種別:
会議録 (C)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)