文献
J-GLOBAL ID:201102232667399899
整理番号:11A1208376
絶縁ゲートバイポーラトランジスタの温度依存性電流クラウディング解析
Temperature Dependent Current Crowding Analysis of Insulated Gate Bipolar Transistor
著者 (4件):
CHIANG Shih-Ying
(National Tsing Hua Univ.)
,
HUNG Tuan-Yu
(National Tsing Hua Univ.)
,
HSING Ray
(DELTA Electronic, INC.)
,
CHIANG Kuo-Ning
(National Tsing Hua Univ.)
資料名:
International Conference on Electronics Packaging (CD-ROM)
(International Conference on Electronics Packaging (CD-ROM))
巻:
2010
ページ:
ROMBUNNO.FB2-4
発行年:
2010年05月12日
JST資料番号:
L6010B
資料種別:
会議録 (C)
記事区分:
原著論文
発行国:
日本 (JPN)
言語:
英語 (EN)