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文献
J-GLOBAL ID:201102233138936575   整理番号:11A0111897

原子分解能走査型透過電子顕微鏡に対する新しい二次元検出器

New area detector for atomic-resolution scanning transmission electron microscopy
著者 (8件):
SHIBATA Naoya
(Univ. Tokyo, Tokyo, JPN)
SHIBATA Naoya
(JST-PRESTO, Saitama, JPN)
KOHNO Yuji
(JEOL Ltd, Tokyo, JPN)
FINDLAY Scott D.
(Univ. Tokyo, Tokyo, JPN)
SAWADA Hidetaka
(JEOL Ltd, Tokyo, JPN)
KONDO Yukihito
(JEOL Ltd, Tokyo, JPN)
IKUHARA Yuichi
(Univ. Tokyo, Tokyo, JPN)
IKUHARA Yuichi
(Japan Fine Ceramics Center, Nagoya, JPN)

資料名:
Journal of Electron Microscopy  (Journal of Electron Microscopy)

巻: 59  号:ページ: 473-479  発行年: 2010年12月 
JST資料番号: W1384A  ISSN: 0022-0744  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: イギリス (GBR)  言語: 英語 (EN)
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