文献
J-GLOBAL ID:201102233138936575
整理番号:11A0111897
原子分解能走査型透過電子顕微鏡に対する新しい二次元検出器
New area detector for atomic-resolution scanning transmission electron microscopy
著者 (8件):
SHIBATA Naoya
(Univ. Tokyo, Tokyo, JPN)
,
SHIBATA Naoya
(JST-PRESTO, Saitama, JPN)
,
KOHNO Yuji
(JEOL Ltd, Tokyo, JPN)
,
FINDLAY Scott D.
(Univ. Tokyo, Tokyo, JPN)
,
SAWADA Hidetaka
(JEOL Ltd, Tokyo, JPN)
,
KONDO Yukihito
(JEOL Ltd, Tokyo, JPN)
,
IKUHARA Yuichi
(Univ. Tokyo, Tokyo, JPN)
,
IKUHARA Yuichi
(Japan Fine Ceramics Center, Nagoya, JPN)
資料名:
Journal of Electron Microscopy
(Journal of Electron Microscopy)
巻:
59
号:
6
ページ:
473-479
発行年:
2010年12月
JST資料番号:
W1384A
ISSN:
0022-0744
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
イギリス (GBR)
言語:
英語 (EN)