文献
J-GLOBAL ID:201102233236000030
整理番号:11A0724401
『CATGIXRF』コンピュータープログラムのかすり入射蛍光X線への応用および薄膜と表面のX線反射率特性評価
Applications of the ‘CATGIXRF’ computer program to the grazing incidence X-ray fluorescence and X-ray reflectivity characterization of thin films and surfaces
著者 (4件):
TIWARI M.K.
(Diamond Light Source Ltd, Oxfordshire, GBR)
,
TIWARI M.K.
(Raja Ramanna Centre for Advanced Technol., Indore, IND)
,
LODHA G.S.
(Raja Ramanna Centre for Advanced Technol., Indore, IND)
,
SAWHNEY K.J.S.
(Diamond Light Source Ltd, Oxfordshire, GBR)
資料名:
X-Ray Spectrometry
(X-Ray Spectrometry)
巻:
39
号:
2
ページ:
127-134
発行年:
2010年03月
JST資料番号:
D0456B
ISSN:
0049-8246
CODEN:
XRSPAX
資料種別:
逐次刊行物 (A)
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)