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文献
J-GLOBAL ID：201102235690550455
整理番号：11A0800077
生物学的汚染防除用の二酸化塩素に曝された電子機器の相互接続信頼性アセスメント
Interconnection Reliability Assessment For Electronic Equipment Exposed to Chlorine Dioxide Used For Biological Decontamination
XU C.
(Alcatel-Lucent Carrier Product Group)
,
FLEMING D.
(Alcatel-Lucent Carrier Product Group)
,
MANDICH M. L.
(Alcatel-Lucent Carrier Product Group)
,
REENTS W. D.
(Alcatel-Lucent Carrier Product Group)
,
DERKITS G. E.
(Alcatel-Lucent Carrier Product Group)
,
FRANEY J. P.
(Alcatel-Lucent Carrier Product Group)
,
KOPF R.
(Alcatel-Lucent Bell Lab.)
,
RYAN S.
(U.S. Environmental Protection Agency)
資料名：
Proceedings of the IEEE Holm Conference on Electrical Contacts
(Proceedings of the IEEE Holm Conference on Electrical Contacts)
巻： 56th ページ： 551-563 発行年： 2010年
JST資料番号： E0462C ISSN： 1062-6808 資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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