文献
J-GLOBAL ID:201102235793547703
整理番号:11A1130289
GaNベースLEDとレーザの劣化の物理的起源に関する最近の結果
Recent results on the physical origin of the degradation of GaN-based LEDs and lasers
著者 (8件):
MENEGHINI M.
(Univ. Padova, Padova, ITA)
,
TRIVELLIN N.
(Panasonic Corp., JPN)
,
MENEGHESSO G.
(Univ. Padova, Padova, ITA)
,
ORITA K.
(Panasonic Corp., JPN)
,
TAKIGAWA S.
(Panasonic Corp., JPN)
,
TANAKA T.
(Panasonic Corp., JPN)
,
UEDA D.
(Panasonic Corp., JPN)
,
ZANONI E.
(Univ. Padova, Padova, ITA)
資料名:
Proceedings of SPIE
(Proceedings of SPIE)
巻:
7939
ページ:
79390W.1-79390W.8
発行年:
2011年
JST資料番号:
D0943A
ISSN:
0277-786X
CODEN:
PSISDG
資料種別:
会議録 (C)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)