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文献
J-GLOBAL ID:201102235989171914   整理番号:11A1159806

バイアス温度不安定性解明の最近の進展

Recent Advances in Understanding the Bias Temperature Instability
著者 (11件):
GRASSER T.
(TU Wien, AUT)
KACZER B.
(IMEC, Leuven, BEL)
GOES W.
(TU Wien, AUT)
REISINGER H.
(Infineon, Munich, DEU)
AICHINGER Th.
(KAI, Villach, AUT)
HEHENBERGER Ph.
(TU Wien, AUT)
WAGNER P.-J.
(TU Wien, AUT)
SCHANOVSKY F.
(TU Wien, AUT)
FRANCO J.
(IMEC, Leuven, BEL)
ROUSSEL Ph.
(IMEC, Leuven, BEL)
NELHIEBEL M.
(Infineon, Villach, AUT)

資料名:
Technical Digest. International Electron Devices Meeting  (Technical Digest. International Electron Devices Meeting)

巻: 2010  ページ: 82-85  発行年: 2010年 
JST資料番号: C0829B  ISSN: 0163-1918  資料種別: 会議録 (C)
記事区分: 原著論文  発行国: アメリカ合衆国 (USA)  言語: 英語 (EN)
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