文献
J-GLOBAL ID:201102236740431327
整理番号:11A1123562
極端紫外線及び電子ビームリソグラフィー用のポリ(スチレンアクリレート)系化学増幅レジストのラジカルカチオンの動力学
Dynamics of Radical Cation of Poly(styrene acrylate)-Based Chemically Amplified Resist for Extreme Ultraviolet and Electron Beam Lithography
著者 (10件):
TAJIMA Yasuharu
(Hokkaido Univ., Sapporo, JPN)
,
TAJIMA Yasuharu
(JST-CREST, Saitama, JPN)
,
OKAMOTO Kazumasa
(Hokkaido Univ., Sapporo, JPN)
,
OKAMOTO Kazumasa
(JST-CREST, Saitama, JPN)
,
KOZAWA Takahiro
(JST-CREST, Saitama, JPN)
,
KOZAWA Takahiro
(Osaka Univ., Osaka, JPN)
,
TAGAWA Seiichi
(JST-CREST, Saitama, JPN)
,
TAGAWA Seiichi
(Osaka Univ., Osaka, JPN)
,
FUJIYOSHI Ryoko
(Hokkaido Univ., Sapporo, JPN)
,
SUMIYOSHI Takashi
(Hokkaido Univ., Sapporo, JPN)
資料名:
Japanese Journal of Applied Physics
(Japanese Journal of Applied Physics)
巻:
50
号:
6,Issue 2
ページ:
06GD03.1-06GD03.3
発行年:
2011年06月25日
JST資料番号:
G0520B
ISSN:
0021-4922
CODEN:
JJAPB6
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
イギリス (GBR)
言語:
英語 (EN)