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文献
J-GLOBAL ID：201102241323469676
整理番号：11A0163535
被覆粒子の形態特性化および被覆厚測定の補助手段としてのX線マイクロトモグラフィーおよび画像分析
X-ray micro tomography and image analysis as complementary methods for morphological characterization and coating thickness measurement of coated particles
PERFETTI Giacomo
(Delft Univ. Technol., Delft, NLD)
,
VAN DE CASTEELE Elke
(SkyScan NV, Kontich, BEL)
,
RIEGER Bernd
(Delft Univ. Technol., Delft, NLD)
,
WILDEBOER Willem J.
(DSM Food Specialities, Delft, NLD)
,
MEESTERS Gabrie M.H.
(Delft Univ. Technol., Delft, NLD)
,
MEESTERS Gabrie M.H.
(DSM Food Specialities, Delft, NLD)
資料名：
Advanced Powder Technology
(Advanced Powder Technology)
巻： 21 号： 6 ページ： 663-675 発行年： 2010年11月
JST資料番号： W0255A ISSN： 0921-8831 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： オランダ (NLD) 言語： 英語 (EN)
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