文献
J-GLOBAL ID:201102250856396041
整理番号:11A0912243
高速記録再生回路を有するReRAMテストマクロ-Conductive Bridge ReRAM with 2.3GB/s Read throughput and 216MB/s Program-throughput-
ReRAM Test Macro with High Speed Read/Program Circuit-Conductive Bridge ReRAM with 2.3GB/s Read throughput and 216MB/s Program-throughput-
著者 (5件):
筒井敬一
(ソニー)
,
大塚渉
(ソニー)
,
宮田幸児
(ソニー)
,
北川真
(ソニー)
,
対馬朋人
(ソニー)
資料名:
電子情報通信学会技術研究報告
(IEICE Technical Report (Institute of Electronics, Information and Communication Engineers))
巻:
111
号:
6(ICD2011 1-20)
ページ:
13-18
発行年:
2011年04月11日
JST資料番号:
S0532B
ISSN:
0913-5685
資料種別:
会議録 (C)
記事区分:
原著論文
発行国:
日本 (JPN)
言語:
日本語 (JA)