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文献
J-GLOBAL ID：201102260945743923
整理番号：11A1530166
反射率の角度依存からのナノ層の光学的性質および厚みの測定
Determination of optical properties and thickness of nanolayers from the angular dependences of reflectance
BILENKO D. I.
(Chernyshevsky State Univ., 410012, Saratov, RUS)
,
SAGAIDACHNYI A. A.
(Chernyshevsky State Univ., 410012, Saratov, RUS)
,
GALUSHKA V. V.
(Chernyshevsky State Univ., 410012, Saratov, RUS)
,
POLYANSKAYA V. P.
(Chernyshevsky State Univ., 410012, Saratov, RUS)
資料名：
Technical Physics
(Technical Physics)
巻： 55 号： 10 ページ： 1478-1483 発行年： 2010年10月
JST資料番号： E0952A ISSN： 1063-7842 CODEN： TEPHEX 資料種別： 逐次刊行物 (A)
発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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