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文献
J-GLOBAL ID：201102262015161706
整理番号：11A0796377
ハンル効果測定を用いた強磁性合金/シリコン界面近傍におけるスピン蓄積の電気的検出
安藤裕一郎
(九大 大学院)
,
安藤裕一郎
(九大 稲盛セ)
,
笠原健司
(九大 大学院)
,
山根一高
(九大 大学院)
,
馬場雄三
(九大 大学院)
,
前田雄也
(九大 大学院)
,
星裕介
(東京都市大 総研)
,
澤野憲太郎
(東京都市大 総研)
,
宮尾正信
(九大 大学院)
,
浜屋宏平
(九大 大学院)
,
浜屋宏平
(JST-さきがけ)
資料名：
応用物理学関係連合講演会講演予稿集(CD-ROM)
(Extended Abstracts of the Spring Meeting, Japan Society of Applied Physics and the Related Societies)
巻： 58th ページ： ROMBUNNO.25A-KM-13 発行年： 2011年03月09日
JST資料番号： Y0054B 資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 短報 発行国： 日本 (JPN) 言語： 日本語 (JA)
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