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文献
J-GLOBAL ID：201102267474018365
整理番号：11A1133717
研究室用低輝度X線源による硬X線位相差顕微鏡法
Hard-X-ray Phase-Difference Microscopy with a Low-Brilliance Laboratory X-ray Source
KUWABARA Hiroaki
(Univ. Tokyo, Chiba, JPN)
,
YASHIRO Wataru
(Univ. Tokyo, Chiba, JPN)
,
HARASSE Sebastien
(Univ. Tokyo, Chiba, JPN)
,
MIZUTANI Haruo
(Univ. Tokyo, Chiba, JPN)
,
MOMOSE Atsushi
(Univ. Tokyo, Chiba, JPN)
資料名：
Applied Physics Express
(Applied Physics Express)
巻： 4 号： 6 ページ： 062502.1-062502.3 発行年： 2011年06月25日
JST資料番号： F0599C ISSN： 1882-0778 CODEN： APEPC4 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 短報 発行国： イギリス (GBR) 言語： 英語 (EN)
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