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文献
J-GLOBAL ID：201102269225385229
整理番号：11A1159948
多重個別トラップのRTN測定によるトラップ位置,エネルギー,振幅及び時定数の統計的キャラクタリゼーション
Statistical Characterization of Trap Position, Energy, Amplitude and Time Constants by RTN Measurement of Multiple Individual Traps
NAGUMO Toshiharu
(Renesas Electronics Corp., Kanagawa, JPN)
,
TAKEUCHI Kiyoshi
(Renesas Electronics Corp., Kanagawa, JPN)
,
HASE Takashi
(Renesas Electronics Corp., Kanagawa, JPN)
,
HAYASHI Yoshihiro
(Renesas Electronics Corp., Kanagawa, JPN)
資料名：
Technical Digest. International Electron Devices Meeting
(Technical Digest. International Electron Devices Meeting)
巻： 2010 ページ： 628-631 発行年： 2010年
JST資料番号： C0829B ISSN： 0163-1918 資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 短報 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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