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文献
J-GLOBAL ID：201102269465428731
整理番号：11A0794797
XFEL用Multi-Port CCD検出器の放射線耐性評価
小野峻
(理研)
,
亀島敬
(理研)
,
桐原陽一
(理研)
,
初井宇記
(理研)
,
工藤統吾
(JASRI)
,
小林和生
(JASRI)
,
堀米利夫
(岡崎国立共同研究機構 分子科研)
,
HOLLAND Andrew
(XCAM)
,
HOLLAND Karen
(XCAM)
,
大沢仁志
(JASRI)
,
矢橋牧名
(理研)
,
西野吉則
(北大)
,
石川哲也
(理研)
資料名：
応用物理学関係連合講演会講演予稿集(CD-ROM)
(Extended Abstracts of the Spring Meeting, Japan Society of Applied Physics and the Related Societies)
巻： 58th ページ： ROMBUNNO.26P-EA-16 発行年： 2011年03月09日
JST資料番号： Y0054B 資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 短報 発行国： 日本 (JPN) 言語： 日本語 (JA)
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