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J-GLOBAL ID：201102275579641389 整理番号：11A0795752

熱ルミネッセンス法による酸化物半導体の電子トラップ状態計測

著者 (4件)：

宮本真太郎

(広島大大学院)

末貞和真

(広島大大学院)

梶山博司

(広島大大学院)

中澤明

(グエラテクノロジー)

資料名：

応用物理学関係連合講演会講演予稿集(CD-ROM) (Extended Abstracts of the Spring Meeting, Japan Society of Applied Physics and the Related Societies)

巻： 58th ページ： ROMBUNNO.26P-BF-22 発行年： 2011年03月09日
JST資料番号： Y0054B 資料種別：会議録 (C)
記事区分：短報発行国：日本 (JPN) 言語：日本語 (JA)

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