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文献
J-GLOBAL ID:201102276138267577   整理番号:11A1585985

半導体歩留り解析のための回帰木に基づく仮説検証手法の提案

A Hypothesis Verification Method Using Regression Tree for Semiconductor Yield Analysis
著者 (5件):
津田英隆
(富士通(株))
白井英大
(富士通セミコンダクターITシステムズ(株))
寺邊正大
((株)三菱総合研究所)
橋本和夫
(東北大学大学院情報科学研究科)
篠原歩
(東北大学大学院情報科学研究科)

資料名:
電気学会論文誌 D  (IEEJ Transactions on Industry Applications)

巻: 131  号: 10  ページ: 1232-1239 (J-STAGE)  発行年: 2011年 
JST資料番号: X0451A  ISSN: 0913-6339  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: 日本 (JPN)  言語: 日本語 (JA)
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